日本电子株式会社：推出新型肖特基场发射(FE)扫描电子显微镜JSM-F100

―全新等级的智慧分析场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)，兼具高解析度和强大的可操作性―

东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd.) (TOKYO:6951) (www.jeol.com)（总裁兼营运长：大井泉）宣布，将於2019年8月推出新型肖特基(Schottky)场发射扫描电子显微镜JSM-F100。

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背景

扫描电子显微镜(SEM)应用於不同的领域：奈米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等。随着应用范围的扩大，SEM使用者需要快速、高品质的资料擷取及简单的组成资讯确认和无缝操作。

JSM-F100搭载我们备受推崇的浸没式(In-lens)肖特基Plus场发射电子枪和"Neo Engine"（电子光学控制系统），以及全新的GUI "SEM Center"和创新的“即时影像视觉增强器-人工智慧(LIVE-AI)滤镜”，实现了高空间解析度成像和可操作性的最优组合。此外，标準的JEOL能量色散型X射线光谱仪(EDS)完全整合於"SEM Center"內，可实现从影像到元素分析结果的无缝採集。JSM-F100提供卓越的工作效率，高出我们之前的JSM-7000系列50%或以上，实现了生产量的显着提高。

特性

1. 浸没式肖特基Plus场发射电子枪
   电子枪与低像差聚光透镜的进一步整合带来更高的亮度。低加速电压下具有足够的探头电流，支援从高解析度成像到高速元素映射的各种功能。
2. 混合式透镜(HL)
   混合式透镜(HL)将静电场镜和磁场透镜相结合，支援各种样品的高空间解析度成像和分析。
3. Neo Engine（新型电子光学引擎）
   Neo Engine是一款先进的电子光学控制系统，可显着提高自动化功能的精确度和可操作性。
4. "SEM Center"新功能
   全新GUI "SEM Center"全面整合SEM成像和EDS分析，提供使用FE-SEM实现的下一代可操作性和高解析度影像。
5. "Zeromag"新功能
   整合的"Zeromag"可实现从光学成像到SEM成像的无缝过渡，让定位目标样品区域变得十分轻鬆。
6. 全新LIVE-AI滤镜*
   透过利用人工智慧(AI)功能，整合的LIVE-AI滤镜可以提供更高品质的即时影像。与影像融合处理不同，这款新的滤镜能够显示无缝移动的即时影像，无残留影像，对於快速搜寻观察区域、对焦和散光像差补偿器调整十分有效。
   *选购

目标年销量

60台/年

日本电子株式会社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
大井泉，总裁兼营运长
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
www.jeol.com

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JSM-F100 (Photo: Business Wire)