JEOL：推出新型電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F和JXA-iSP100

- 整合式EPMA的演進 -

東京--(美國商業資訊)--日本電子株式會社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（總裁兼營運長：Izumi Oi）宣布於2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)場發射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F和新型鎢/ LaB6電子探針顯微分析儀JXA-iSP100。

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產品開發背景

在鋼、汽車、電子零件和電池材料等廣泛工業領域中，電子探針顯微分析儀(EPMA)用作研發和品質控制工具。此外，在學術領域，EPMA應用於地球與行星科學和材料科學，不僅涵蓋礦物能源研究，而且涉及新型材料研究，從而為各種尖端研究做出貢獻。隨著EPMA應用的增加，EPMA使用者需要具有高可操作性的簡單快速的分析，同時也要在特定感興趣區域保持高品質的微量元素分析性能。

為滿足這些需求，從觀察（光學和SEM影像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支援與波長色散X射線光譜儀(WDS)、能量色散X射線光譜儀(EDS)、陰極發光(CL)及其他技術的無縫整合。

主要特性

整合EPMA可實現簡單快速的操作

1. 高通量
   任何人都能以高精度執行從試樣送入到分析區域確定的順暢操作。
2. 高準確度分析
   整合式EPMA系統讓任何人都能夠以更高的準確度和精確度以及更快的功能，更快、更輕鬆地取得分析資料。
3. 易於維護
   由於僅在需要時才自動執行維護，因此每個人都可以將EPMA系統維持在最佳狀態。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度延展性。其不僅可用於WDS和EDS系統，而且可結合軟X射線發射分光儀(SXES)進行化學狀態分析，結合電子背散射衍射系統(EBSD)進行晶體取向分析，以及整合陰極發光檢測器(CL)用於廣泛應用中的多樣化分析。

備註：EPMA是「電子探針顯微分析儀」(Electron Probe Microanalyzer)的縮寫。

年度單位銷售目標
70套/年

日本電子株式會社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，總裁兼營運長
（股票代碼：6951，東京證券交易所第一部）
www.jeol.com

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JXA-iHP200F (Photo: Business Wire)