致茂半导体测试方案 强攻 IOT 新应用

日期：2019年3月19日 上午7:00 台湾桃园2019年3月19日 /美通社/ -- Chroma 3680全方位高精度 / 高效能 SoC 测试系统，可提供高达2048个 I/O 通道、数位通道速率 (data rate) 最高可达1Gbps、最高512个并行测试的能力及512M Word 测试资料记忆体深度，以提供最低的测试成本且满足复杂 SoC 的测试应用需求。应用范围包含微控制器 (MCU)、数位音讯、数位电视、机顶盒、数位信号处理器 (DSP)、网路处理器 (Network Processor)、现场可程式逻辑门阵列 (FPGA) 及消费性电子 IC 应用市场等测试方案。
HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号解决方案，为 Chroma 3680的选购模组，拥有可同时输出的8个差动源模组 (AWG) 和同时接收的8个差动测量模组 (DGT)，且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps 的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps 的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，适用于标准的基频、视讯、音讯、图形、STB以及 DTV 等广泛的混合讯号测试应用。
搭配于3680上所开发的 CRISPro 软体套件，让使用者可以用图形化介面 (GUI) 或程式语言做测试程式的开发，加上支援可同时测试 (Concurrent Testing) 的功能，以降低测试程式的时间，加快产品的量产速度。
经济且弹性高之完整 ATE 测试功能
Chroma 3380为一经济且弹性极高之 ATE 自动测试系统，最高可以提供1,280通道，速率最高可达100Mbps、并提供1024个并行测试能力。不仅具有多样性模拟 (analog) 信号的仪器板卡可供选择，更具备各种常见 ATE 系统之转换软件与硬件模块，让转移平台快速方便，降低整体测试成本 (COT)。此外，3380可以完整整合射频测试仪 MP5806。同时支持 Direct Mount 和 Cable Mount 的测试方案，拥有4/8 RF Port 及120MHz 频宽，涵盖6GHz 范围内的无线测试规范，应用范围包含 Wi-Fi/ BT/ GNSS/ Tuner/ NB-IoT/ LoRa 等无线通讯与 IoT 应用及 RF 元件测试 (PA/LNA/Converter 等 )，提供 RF/Digital 全方位 ATE(CP/FT/SLT) 测试解决方案。
Chroma 33010 PXIe 架构之自动测试系统 (ATE)，具完整 ATE 功能，对于价格更敏感的客户，提供符合未来 PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小 IC 通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在 IoT 及车用感测 IC 测试上，PXI/PXIe 架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上具有优势。应用范围包含微控制器、微机电 (MEMS) 感测器、射频 IC(RF IC) 及电源 IC (PMIC) 等测试方案。
全温度控制范围，确保IC最终品质
Chroma 3110S 双用型单测头的 Pick & Place 测试分类机，支援各种不同类型封装晶片，如 BGA、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip 与 TSOP 等，并可支援至120mm 封装尺寸。内建全温度范围控制模组(Full range Thermal Control Unit)，可提供高功率主动式温控系统 (High Power Cooling ATC)，温度范围零下摄氏40度 ~ 摄氏150度 (+/-摄氏3度) 选配高规格温控器可达零下摄氏55度 ~ 摄氏175度 (+/-摄氏3度) 的温控能力，并支援压测力量220Kgf 的特殊需求，符合各类产品线综合应用，绝对是工程验证和小批量量产的理想设备。